Iijima Y., Kiss T., Saitoh T., Izumi T., Shiohara Y., Takahashi T., Kato T., Hirayama T., Taneda T., Yoshida R., Kuriki R., Yoshizumi M., Shinozaki T.
Ключевые слова: HTS, coated conductors, buffer layers, films epitaxial, IBAD process, YBCO, fabrication
Iijima Y., Higashikawa K., Awaji S., Watanabe K., Kiss T., Saitoh T., Izumi T., Inoue M., Fuger R., Namba M.
Kikuchi A., Iijima Y., Tsuchiya K., Takao T., Banno N., Takeuchi T., Nimori S., Barzi E., Yamada R., Tanaka K., Nakamoto T., Ghosh A., Takigawa H., Terashima A., Maruyama M., Zlobin A., Nakagawa K., Kuroda Y.
Ключевые слова: LTS, V3Ga, wires, fabrication, precursors, microstructure, PIT process, critical caracteristics, critical current density, composition, Jc/B curves
Iijima Y., Saitoh T., Izumi T., Shiohara Y., Aoki Y., Hasegawa T., Hayashi H., Sato S., Iwakuma M., Yamada Y., Okamoto H., Koizumi T., Tomioka A., Ohkuma T., Gosho Y., Otonari T., Ogata T., Tsutsumi T.
Iijima Y., Saitoh T., Kakimoto K., Sutoh Y., Igarashi M., Hanyu S., Hanada Y., Kutami H., Hayashida T., Nakamura N., Takemoto T., Kikutake R.
Iijima Y., Higashikawa K., Kiss T., Saitoh T., Izumi T., Inoue M., Imamura K., Kakimoto K., Shiohara K., Kawaguchi T.
Iijima Y., Izumi T., Shiohara Y., Hayashi H., Iwakuma M., Saito T., Okamoto H., Tomioka A., Tanabe K., Gosho Y., Otonari T., Ogata T.
Ключевые слова: power equipment, transformer current limiting, HTS, YBCO, overcurrent, test results, current waveforms, voltage waveforms, coils model, ac performance
Iijima Y., Izumi T., Shiohara Y., Hayashi H., Iwakuma M., Saito T., Okamoto H., Tomioka A., Tanabe K., Gosho Y., Otonari T., Ogata T.
Iijima Y., Saitoh T., Kakimoto K., Sutoh Y., Igarashi M., Hanyu S., Hanada Y., Kutami H., Hayashida T., Tashita C., Morita K.
Iijima Y., Saitoh T., Kakimoto K., Sutoh Y., Igarashi M., Hanyu S., Hanada Y., Kutami H., Hayashida T., Tashita C., Morita K.
Ключевые слова: HTS, coated conductors, long conductors, high rate process, REBCO, IBAD process, PLD process, substrate Ni alloy, fabrication, texture, critical current distribution, length
Iijima Y., Saitoh T., Kakimoto K., Sutoh Y., Fujita S., Igarashi M., Hanyu S., Hanada Y., Kutami H., Hayashida T., Tashita C., Morita K., Nakamura N.
Iijima Y., Saitoh T., Kakimoto K., Sutoh Y., Igarashi M., Hanyu S., Hanada Y., Kutami H., Hayashida T., Tashita C., Morita K., Nakamura N.
Ключевые слова: HTS, REBCO, coated conductors, IBAD process, buffer layers, texture, microstructure, fabrication, length
Iijima Y., Saitoh T., Kakimoto K., Sutoh Y., Fujita S., Igarashi M., Hanyu S., Hanada Y., Kutami H., Hayashida T., Morita K., Nakamura N.
Kikuchi A., Iijima Y., Tsuchiya K., Takao T., Banno N., Takeuchi T., Nimori S., Terashima A., Kuroda Y.
Ключевые слова: LTS, Nb3Sn, wires, fabrication, accelerator magnets, magnetic properties, magnetization, RHQT-process, high field magnets
Ключевые слова: LTS, Nb3Sn, strands, fabrication, grain boundaries, microstructure, RHQT-process, grain size, composition
Kikuchi A., Iijima Y., Tsuchiya K., Takao T., Banno N., Takeuchi T., Nimori S., Tanaka K., Yamamoto A., Takigawa H., Tagawa K., Terashima A., Nakagawa K., Kuroda Y.
© Copyright 2006-2012. Использование материалов сайта возможно только с обязательной ссылкой на сайт.
Свои замечания и пожелания вы можете направлять по адресу perst@isssph.kiae.ru
Техническая поддержка Alexey, дизайн Teodor.